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陽離子鍍膜是什麼的問題,我們搜遍了碩博士論文和台灣出版的書籍,推薦謝朝陽寫的 熱處理,101例客訴分析 和田民波的 創新材料學都 可以從中找到所需的評價。

這兩本書分別來自博客思 和五南所出版 。

國立高雄科技大學 半導體工程系 楊奇達、李重義所指導 洪嘉徽的 以氧化鋅製作p-i-n型結構之紫外光光檢測器 (2021),提出陽離子鍍膜是什麼關鍵因素是什麼,來自於氧化鋅、p-i-n型二極體、反應性射頻磁控濺鍍。

而第二篇論文國立臺灣科技大學 材料科學與工程系 郭東昊所指導 李建輝的 水熱法製備氧化鉬與鎳鐵硫化物 多相結構電極在鹼性環境下用於整體水分解 (2020),提出因為有 水熱法、鎳硫化物、鐵硫化物、氧化鉬、電催化性能、整體水分解的重點而找出了 陽離子鍍膜是什麼的解答。

接下來讓我們看這些論文和書籍都說些什麼吧:

除了陽離子鍍膜是什麼,大家也想知道這些:

熱處理,101例客訴分析

為了解決陽離子鍍膜是什麼的問題,作者謝朝陽 這樣論述:

  熱處理入門技術,「專業知識」溫度、時間、冷卻,三種參數對應金屬材料,找這本就對了!   熱處理行業包含多種產業,從工廠規劃、設備採買、試俥到產品生產等整廠工程及管理實務。   鐵鋼材料在受到加熱、冷卻或加工時,其動態及靜態的強度均會發生顯著的變化;通常由於材料選擇不當、熱處理操作不當、或者不合於使用條件等之原因而起,嚴重者致使工作件不堪使用。   此書中案例中,由專業領域的行家針對產品問題並提出解決對策及建議。  

以氧化鋅製作p-i-n型結構之紫外光光檢測器

為了解決陽離子鍍膜是什麼的問題,作者洪嘉徽 這樣論述:

本研究是以氧化鋅為材料製作p-i-n結構之光電檢測器。我們利用射頻/直流濺鍍機(RF/DC Sputter)以鋅為濺鍍靶材,沉積一柱狀纖鋅礦結構且穩定的I-ZnO薄膜於p型矽基板上,並以熱蒸鍍的方式沉積指叉鋁電極,最後利用快速熱退火系統將鋁擴散至I-ZnO部分區域以形成n型AZO,製作出可感測紫外光波段之光檢測器,進行光電特性量測,並且透過調整氧化鋅薄膜的厚度,觀察不同I層厚度下的檢測器之暗電流影響,及厚度對量子轉換效率的影響,以此來製作擁有較佳轉換效率的紫外光光檢測器。

創新材料學

為了解決陽離子鍍膜是什麼的問題,作者田民波 這樣論述:

  《創新材料學》共分10章,每章涉及一個相對獨立的材料領域,自成體系,內容全面,系統完整。內容包括半導體積體電路材料、微電子封裝和封裝材料、平面顯示器相關材料、半導體固態照明及相關材料、化學電池及電池材料、光伏發電和太陽能電池材料、核能利用和核材料;能源、信號轉換及感測器材料、電磁相容—電磁遮罩及RFID 用材料、環境友好和環境材料,涉及最新技術的各個領域。本書所討論的既是新技術中所採用的新材料,也是新材料在新技術中的應用。

水熱法製備氧化鉬與鎳鐵硫化物 多相結構電極在鹼性環境下用於整體水分解

為了解決陽離子鍍膜是什麼的問題,作者李建輝 這樣論述:

本研究透過簡單的一步水熱程序,成功在鎳泡綿上製備出在鹼性環境中HER與OER均表現出優異催化活性的雙功能催化電極。實驗中,我們調控不同反應物種如TAA、CTAB、Fe源、Mo源的濃度來沉積催化電極,透過SEM、EDS、XRD、Raman、XPS來分析表面特徵,並藉由雙頻恆電位/電流/交流阻抗儀量進行電化學測試。根據實驗結果,添加的TAA會和鎳泡綿本身提供的Ni源產生反應,形成奈米樹狀結構之鎳硫化物Ni3S2,隨後添加之CTAB則作為陽離子表面活性劑使表面結構改變,形成奈米柱狀結構,不僅有調節結構和電子效益等特性,且會導致更高的比表面積,而有更多的催化活性位點和更好的導電性。Fe源的摻雜使柱狀

結構之間多了額外了鐵硫化物FeS2奈米球狀結構,使OER性能大幅提升。最後添加的Mo源則會在水熱時形成厚的MoOx奈米顆粒結構覆蓋在Ni3S2、FeS2結構上。氧化鉬廣泛的變化性和可調性,使薄膜在HER電催化性方面有大幅度的提升。電化學量測結果顯示,在1M KOH鹼性環境下,Mo0.5Fe0.25-1g CTAB/NS4薄膜有著良好的雙功能電催化性用於整體水分解。在LSV析氧反應量測中,為達到100 mA/cm2和500 mA/cm2 電流密度,過電位僅需0.23 V、0.34 V,Tafel斜率值為96 mV/dec。在析氫反應量測中,-10 mA/cm2、-100 mA/cm2電流密度下,

過電壓分別僅需-0.17 V、-0.26 V, Tafel斜率值為 46 mV/dec。因有良好HER、OER性能,我們將Mo0.5Fe0.25-1g CTAB/NS4同時用作陰極和陽極,組裝成簡易鹼性電解槽,並用於量測整體水分解性能,在100 mA/cm2的電流密度下,可以得到1.71 V的電位,且在CstC量測中,也具有良好的穩定性。透過SEM、EDS、XRD、Raman、XPS等結構分析推斷薄膜表面有著Ni3S2、FeS2、MoOx等多相結構存在。